产品特性：TESCAN扫描电镜special products主要特点：内置 AFM/SPM,RISE Microscopy,TOF-SIMS & FERA3,EBIC - 电子束感生电流探头,MIRA3 AMU 定制样品室,电子束写入模块包（EBL)
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可充分利用SEM/ FIB-SEM的快速成像并同时获得SPM的信息！
飞行时间二次离子质谱仪（TOF-SIMS)已经可以安装在TESCAN 的LYRA3系列 （镓离子源FIB-SEM）和新的FERA3（Xe等离子源FIB-SEM）。
TESCAN 在电子束感应电流/电阻(EBIC)的测量和面扫中加了一种新的方式。完全内置的EBIC探头，可以快速便捷的实现所有软件允许的应用功能。而且TESCAN 使用了纳米探针作为新的EBIC探头的连接方式。创新的方式使得3维EBIC分析成为了现实。
TESCAN公司提供可定制的超大等级的样品室。
电子束写入模块（EBL) 是一款技术已经成熟的配件，它可以在纳米级别上对指定的结构进行调整或修改。
为用户提供详尽的仪器用途、重要参数的说明，还为客户提供不同品牌产品间的性能比较，给用户最中肯的购买建议。
安装验收合格后整机保修壹年。在质保期内，我们负责为用户的设备提供免费维护、保养和免费更换损坏的零部件；
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