徕卡DCM8用于无损三维表面轮廓形成。该仪器融合了共聚焦和干涉光学测量仪，因此具有这两种技术的优越性：用于高横向分辨率和干涉法的高清晰度共聚焦显微镜，可获得亚纳米级的垂直分辨率。这两种技术对于在各种不同的研究和产品环境下，进行材料和零部件的表面分析都非常重要。由带有高坡区域的错综复杂的结构制成的表面，要求数微米的横向分辨率。与之相反，带有临界微型峰和谷的抛光超平滑表面，则要求纳米尺度的纵向分辨率。

徕卡DCM8可以满足用户对表面测量的具体要求——共聚焦显微镜可使横向分辨率高达140nm，辅之以干涉测量法，垂直分辨率可高达0.1nm。产品管理团队行业的团队领导人——Stefan Motyka说：“徕卡DCM8是一种通用的、准确的测量器，可以节省时间和成本：用户不必交换仪器，就可以利用共聚焦和干涉测量技术，观察和测量同一样品——他们只需要一台仪器。另外，显微镜的便捷设置和简单操作，可以省时省力，非常快速、方便地提供结果。”

为了获得高分辨率和高速度，徕卡DCM8采用了共聚焦扫描技术，无需移动传感头中的部件，从而提高了可重复性和稳定性。只需点击鼠标，即可在两种技术之间快速、简单地切换。

瑞士温特图尔IMPE的Christof Scherrer说：“我们之所以决定购买徕卡DCM系统，是因为它可以用作光学显微镜，带有明场、暗场和共聚焦以及三种干涉模式。对于像我们这样的材料科学方面多元化的研究工作来说，灵活性是一项重要因素。”

除了使用不同技术用于观察和分析之外，徕卡DCM8还是一种用于样品的准确色彩存档的理想仪器。高品质徕卡物镜以及四个LED光源的多种选择——蓝色（460nm）、绿色（530nm）、红色（630nm）和白色（中心550nm）——以及一个集成的CCD相机，提供逼真的彩色图像。相机具有很大的视场——如果这还不够，可以选择XY地形拼接模式，以获得较大面积的无缝、准确模型。直观的软件可以使用户简化复杂的3D和2D分析，完成符合具体需求的配置。