BAHENS仪器为您提供全自动颗粒度大小分析系统详细的方案介绍:
全自动颗粒分析系统
1、 高整合的自动系统
整合进口显微镜、进口数码设备、进口XYZ-3轴电动扫描台;项目化管理、流程化操作。
2、 自动扫描
自动扫描整个样品。支持多种扫描方式:矩形区域、圆形区域等;;支持异形样品扫描;满足各种不同标准、不同用户的检测需要,大大提高工作效率。
3、 自动聚焦
支持多种聚焦模式:补�聚焦、手动聚焦、EFI聚焦等。采用新的聚焦算法,保证在试样不够平整的情况下也能得到清晰的图像。
4、 自动拍照
自动拍照、照片自动保存,进度状态实时可见;照片信息存入数据库,方便查询;提供视场图片浏览功能,可以实现视场定位回溯、重新拍照等功能。
5、 多种检查方法
支持定义颗粒分类标准,可以根据用户自定义检查分类数据,很好的兼容了厂内标准、自定义标准等情况。
6、 颗粒自动识别与分类
系统自动识别颗粒、自动统计颗粒面积、直径、圆氐榷嘀植问M敝С挚帕1嗉?拆分/重组;支持阴影校正、提高颗粒识别精度;支持帧间颗粒探测技术,保证颗粒尺寸准确。提供多种统计分析工具:MAP图、颗粒列表、颗粒统计结果、直方图等。自动统计颗粒尺寸分布和空间分布。
7、 专业的孔隙分析报告
专业的颗粒分析报告,根据不同标准生成对应的专业报告;支持报告的个性化设计。
全自动颗粒度大小分析系统的组成及应用>围
1、 全自动颗粒分析系统 Automatic Analysis System
全自动的颗粒分析系统是采用图像分析法进行颗粒的分析与统计。可用于各种颗粒试样的分析统计。例如:粉末冶金、涂料颗粒、油液中的颗粒等等。
系统由多种自动控制部分组成。包括:光学显微镜、3轴电动台(支持多种高精度电动台)、电动转盘控制器、自动拍照系统、全自动颗粒分析软件等。
全自动的检验分析过程:自动扫描整个试样、自动拍照,颗粒自动识别、统计、分析,自动生成专业分析报告;
高精度电动台
2、 自动扫描样品 Auto Scan,Support Multiple Scanning Area
支持多种扫描方式:矩形区域、圆形区域等;满足各种应用需要;
3、 多种自动聚焦算法 Multiple Automatic Focus Algorithm
支持多种聚焦模式:补偿聚焦、跟踪聚焦、手动聚焦、EFI聚焦等。采用新的聚焦算法,保证在试样不够平整的情况下也能得到清晰的图像;
4、 自动拍照、视场自动定位 Automatic Camera and Field Position
采集过程自动拍照、照片自动保存,进度状态实时可见;照片信息存入数据库,方便查询;
提供视场图片浏览功能,可以实现视场定位回溯、重新拍照等功能。
5、 多种检测方法 Multi Testing Standard
符合GB/T 15445-1995标准等常用颗粒粒度检测标准,同时支持多种行业标准。
可以根据用户自定义检查分类数据,很好的兼容了厂内标准、自定义标准等情况。
6、 颗粒自动识别与分类
Particles Automatic Identification and Classification
系统自动识别颗粒、自动统计颗粒面积、 径、圆度等二十余种参数。同时支持颗粒编辑/拆分/重组;支持阴影校正、提高颗粒识别精度;支持帧间颗粒探测技术,保证颗粒尺寸准确。提供多种统计分析工具:MAP图、颗粒列表、颗粒统计结果、直方图等。自动统计颗粒尺寸分布和空间分布。
7、 专业颗粒分析报告 Professional Inclusion Report
专业的颗粒分析报告,根据不同标准生成对应的专业报告;支持报告的个性化设计。