日本电子株式会社成立于 1949 年,之前全称为 Japan Electron Optics Laboratory(日本 电子光学实验室),简称为 JEOL。早在 1947 年,JEOL 便开发出了透射电子显微镜 DA-1。随 后,JEOL 不断发展,为研发活动设计并制造了科学仪器,这些仪器包括:透射电镜、 扫描电镜、电子探针、离子束应用装置、核磁共振波谱仪、质谱仪等。这些产品和服务保证 了各类研发工作。
从事医学、生物、生物化学、农业、材料科学、冶金、陶瓷、化学、石油、半导体和电 子产品的专家们已经使用 JEOL 的产品超过 60 年。
日本电子以创造和开发为本通过产品贡献于科学进步和社会发展。
扫描电子显微镜SEMIT100通过多点触控技术和操作软件,操作直观简单。进行EDS元素分析。配置EDS分析功能的JSM-IT100A,不仅能获取高分辨率的图像,还采用了无需液氮制冷的EDS检测器 (DRY SD),能够进行定性分析、定量分析。
JSM-IT100 扫描电镜介绍及参数规格:
1、使用多点触摸屏,操作舒服
InTouchScope JSM-IT100 通过多点触控技术操作软件,操作直观简单。只需轻
触屏幕就能像操作智能手机一样操控各种功能,舒服便捷。新开发的操作界面简明易懂,即使是 SEM 新手也能轻松获得高品质的 SEM 图像,进行 EDS 元素分析。
2、能适应各种环境的可移动式扫描电镜
InTouchScope 扫描电镜,在手边的 PC 上就可以进行观察和分析。只要移动触摸屏,在远离装置的地方也能够进行操作。(无线模式操作为选配件)。InTouchScope 主机只需 AC100V 插座就可以安装,用脚轮即可移动。
EDS能谱分析
JSM-IT100可扩展EDS分析功能,并为多种探测器预留接口。InTouchScope触控式扫描电镜不仅功能全,而且耐用,能够很好的满足不同实验室的需求。它能够提供高分辨率,并能够在高真空和低真空模式下提供系列加速电压。
利用IT100扫描电镜,能够轻松快速获取高质量的的二次电子和背散射电子像。采用硅漂移探测技术的嵌入式JEOL EDS系统,具有面分布分析、多点分析、自动漂移补偿、线扫描、Partial area和Mapping Filter等功能。
扫描电子显微镜表面分析仪优点:
①有较高的放大倍数,几万~几十万倍之间连续可调;
②有很大的景深,视野大,成像富有立体感,可直接观察各种试样凹凸不平表面的细微结构;
③试样制备简单。 目前的扫描电镜都配有X射线能谱仪装置,这样可以同时进行显微组织性貌的观察和微区成分分析,因此它是当今十分有用的科学研究仪器。
JSM-IT100型扫描电镜由真空系统、电子光学系统、样品室和样品台、电子探测器、背散射电子探头、真空泵、自动稳压器、专用工具、计算机、操作软件及附件组成。主要用于材料科学、化学化工、生命科学以及相关领域的研究工作,对各种材料、化工产品、生物制品、非金属矿及深加工产品等进行观测。
钨灯丝扫描电子显微镜参数:
1、背散射电子图像分辨率4nm
2、二次电子图象分辨率 3nm@30KV
3、加速电压:0.5-30kV
4、放大倍数:5-300000
5、仪器种类:钨灯丝
6、背散射电子像:≤5.0nm(20KV)
7、放大倍数:X8~x300000倍
8、真空系统
8.1 真空度:高真空≤0.1mPa
8.2 泵系统:涡轮分子泵1个,机械泵 1个。正常换样时间小于3分钟
9、聚光镜:可变焦距聚焦镜
10、物镜: 圆锥形物镜
11、聚焦:自动或手动聚焦
12、物镜光栏:单一物镜光栏