FEI扫描电镜Q25
对于失效分析、质量控制和材料表征而言、Q25是经济、高分辨成像和分析应用的解决方案。在设计上侧重易用性、Q25可以让用户迅速得到他们所需的数据。 

优点
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快速轻松表征导电和非导电样品样品
制备工作减少化：低真空下可以对不导电无荷电成像和分析
支持可选的分析功能。利用多级穿过透镜的真空系统在高真空和低真空下使导样品和不导电样品的EDS分析成为可能。
利用稳定的高束流（上至2 μA）电子束可以迅速获得分析结果。