该产品可以通过多样化的应用程序,不费吹飞之力即可获得敏锐、清晰、高分辨率的扫描图像。
通过之前的速度和精度,推动您研发进步并助力您的科学新发现—FX40将人工智能运用的很好,全自动化的过程能实现用户纳米级显微镜的需求。
额外的轴向自动激光校准、早期预警和故障自动系统、同步化信息提取和存储，让即便是未经原子力显微镜培训的研究科学家们也可以轻松快速的获得满意的扫描结果。

纳米级的显微镜,硬核级的科技进步​​鼎力相助时代前沿的科技研发

采用AFM双摄像头系统能全自动化实时更新海量数据

智能的AFM

智能的原子力显微镜

Park FX只需鼠标一键操作，就能实现自动换针，以避免探针被污染或因操作不当而导致的探计损坏等问题,用户还可以根据提示，选择不同的探针类型,应用类型和使用信息等。

自动更换探针
通过自动换针方式，用户可轻松进行自动换针。 利用装有8个探针的盒子和磁控机制的便利性，用户无需操作便可安装探针。

自动识别扫码
探针识别摄像头可以加载探针芯片载体上的二维码，提取并显示每个可用探针的探针类型，应用类型和使用信息等全部相关信息。

自动激光校准
自动激光校准功能将激光定位到悬臂梁的适当位置，并进一步分别优化PSPD的垂直和横向位置。用户只需简单点击，移动X,Y和Z轴便可得到毫不失真的高清扫描图。

双摄像头系统、自动校准探针、和样品位置

Play Video 样品摄像头
样品台上至多可以同时放置四个不同量级的样品。即便如此，样品摄像头也可以毫不费力地定位到相关位置进行准确扫描。

Play Video 探针识别摄像头
探针识别系统可以帮助用户搜索相关探针的全部信息（包括探针类型，应用类型和使用信息等）使研究工作事半功倍。只需一键，Park FX40便可轻松助您选择所需要的探针。

智能自动化​​

FX40拥有智能视觉系统，能自动检测探针是否正确定位。软件界面通过定位加载探针的位置至纳米级别，并在必要时生成错误状态报告，

同时将这些数据与成千上万个可能发生的模拟问题进行比较，以此不断更新升级软件。​

原子力显微镜中

快速准确的
非接触模式

对于针尖样品间距离，Park非接触模式展现了其控制力，距离达到了亚纳米级别。
Park FX40拥有快速且准确的非接触模式。

探针着陆装置——大限度保护样品和探针
Park采用防碰撞传感器装置和连锁软件相结合，可以更好地保护针尖和AFM扫描器。通过算法编程，Z移动台只能在针尖与样品表面碰撞内升降，避免因探针与样品相碰而产生损害，很大地提高了生产力和测量准确度。

自我诊断型环境传感器
智能扫描器显示并储存传感器的测量结果。传感器主要测量基本的环境条件，如温度，湿度，水平和振动。由此帮助用户在不同环境条件下扫描图像，为您筛选良好的环境指标。

探针安装系统
用户可以选择手动或自动探针安装功能，同时内置的智能系统会自动检测并在用户错误安装探针时发出警告，从而有效提高测量准确度。

AFM体验——专为FX设计的Park OS SmartScan
简易单击成像

1. 精要设置
自动探针检测，自动激光校准
简要的教学动画分分钟让您学会如何进行样品放置以及仪器成像设置。

2. 准确定位
定位样品位置
AFM自动执行悬臂的频率性扫描，接近样品的Z移动台, 然后自动聚焦，帮助您扫描任何您想要的区域。

3. 高清成像
自动探针检测
完成定位之后，系统会设置合适的参数，连接悬臂并扫描样品，直到为您扫出高解析度高分辨率的图像。

Park FX40技术参数

XY扫描器

构造

▪ 单模块并联二维挠性扫描器
▪ 比挠性扫描器更好的对称性

XY扫描范围

▪ 100 µm x 100 µm
Z扫描器

构造

▪ 挠性导向扫描器
▪ 比挠性扫描器更好的对称性

Z扫描范围

▪ 15 µm
装载样品

装载

▪ 磁性吸盘，可安放4个样品载片
▪ FX多功能嵌入式样品台
驱动台

Z位移台行程范围

▪ 22 mm （机动）
视野

视野

▪ 样品同轴视野
▪ 与光学显微镜相同的视图

CCD

▪ 510万像素
▪ 像素大小：3.45 μm x 3.45 μm
原子力显微镜控制器

锁相放大器

▪ 4通道集成 16Hz-5MHz

配件

自动换针

▪ 使用自动换针技术可以在不到一分钟时间内更换

装载探针

▪ 使用探针载体装载