更强的信号，更丰富的细节

GeminiSEM 500 为您呈现任意样品表面更强的信号和更丰富的细节信息，尤其在低的加速电压下，在避免样品损伤的同时快速地获取更高清晰度的图像。

• 经优化和增强的Inlens探测器可有效地采集信号，助您快速地获取清晰的图像，并使样品损伤降至更低；
• 在低电压下拥有更高的信噪比和更高的衬度，二次电子图像分辨率1 kV达0.9nm，500 V达1.0 nm，无需样品台减速即可进行高质量的低电压成像，
• 为您呈现任意样品在纳米尺度上更丰富的细节信息；
• 应用样品台减速技术-（Tandem decel），可在1 kV下获得高达0.8nm二次电子图像分辨率；
• 创新设计的可变压力模式-NanoVP技术，让您拥有身处在高真空模式下工作的感觉。