FEI扫描电镜Prisma E材料科学SEM可直观的观察到隔膜的孔形貌、造孔均匀性及制备工艺，扫描电镜
可反映出隔膜的造孔不均、拉伸断裂、涂覆不均等问题。

新型Prisma E扫描电子显微镜（SEM）将各种成像和分析模式与新的自动化相结合，为同类仪器提供完整的解决方案。

它非常适用于需要高分辨率，样品灵活和易于使用的操作界面的工业研发，质量控制和故障分析应用。Prisma E成功获得了为成功的Quanta SEM。