产品特性：扫描电子显微镜 JSM-7610F 用于材料和电子器件失效分析的微观观察,同时具有分辨率和大景深的特点,根据观察效果不同,可选择钨灯丝电镜和场发射电镜.
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用于材料和电子器件失效分析的微观观察。
同时具有分辨率和大景深的特点。
根据观察效果不同，可选择钨灯丝电镜和场发射电镜。
典型应用：
- 铜箔表面的形貌观察，尤其是铜瘤的检查；
- 铜箔毛面与粘结片树脂剥离后的微观形貌观察；
- 焊点失效时，焊点合金层形貌；
- 键合不良时焊点的微观形貌。
为用户提供详尽的仪器用途、重要参数的说明，还为客户提供不同品牌产品间的性能比较，给用户最中肯的购买建议。
安装验收合格后整机保修壹年。在质保期内，我们负责为用户的设备提供免费维护、保养和免费更换损坏的零部件；
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