产品特性:布鲁克电子显微镜分析仪SEM QUANTAX EDS您分析挑战的解决方案:SEM, FIB 和 EPMA 的 EDS,能量分散光谱学标准.
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再一次,布鲁克为扫描电子显微镜的能量分散光谱设定了性能和功能标准。新一代 QUANTAX EDS 采用XFlash® 6探测器系列,探测器的有效面积为 10 至 100 mm2。
第 6 代 EDS 提供硬件和软件技术,以实现很快、可靠的结果:
节省时间 - 拥有细管径技术的新型探测器、大面积硅漂移探测器、可控制多个探测器以及具有高性能的脉冲处理器,更快地完成工作
节省工作量 - 电动马达控制探测器移动和迷你轻质的设计,让探测器使用起来更加轻松
获得更高的精度 - 能量分辨率提供质量的谱图,非常适合用于准确分析
获得更棒的可靠性 - 世界上全方面的原子数据库确保可靠的低能量峰值识别
获得更高的精度 - 定量算法、基于标样的定量方法和独特的有标样和无标样定量组合提供精度的定量结果
布鲁克 EDS 可与每一款电子显微镜适配的安装、并提供速度和精度,这使得布鲁克 EDS 为任何实验室提供了大的 EDS 系统。此系统包括光谱成像,使微纳米分析不再是一个挑战。
XFlash® 系列还为 TEM 和 STEM 提供优化解决方案,以及独特的XFlash® FlatQUAD,一种用于困难样品表征的探测器。
此外,EDS 可以与 EBSD、Micro-XRF 和 WDS 的无缝集成一款软件中,布鲁克的 ESPRIT 为任何 SEM、FIB 和 EPMA 提供了全方面的分析平台。
为用户提供详尽的仪器用途、重要参数的说明,还为客户提供不同品牌产品间的性能比较,给用户最中肯的购买建议。
安装验收合格后整机保修壹年。在质保期内,我们负责为用户的设备提供免费维护、保养和免费更换损坏的零部件;
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