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日置-HIOKI C测试仪 3504-40

  1. 产品编号:
  2. 所属品牌:日本HIOKI
  3. 产品型号:
  4. 额定功率:按实际方案提供
  5. 所属类别:尺寸测量仪器
  6. 所属用途:尺寸测量
  7. 应用领域:

产品特性:封装机、分选机、电容器的合格与否的判断和等级分类等,C、D 2项目测试 能以恒定电压测量大容量的多层陶瓷电容 测试源频率: 120Hz, 1kHz 高速测量: 2ms RS-232C

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产品特点 技术规格 行业标准

● 高速测量2ms ● 能根据C 和D (损耗系数*2)的测量值,进行被测物合格与否的判断
● 对应测试线,比较器功能/触发输出功能
● 3504-60/-50用BIN的分选接口进行被测物体的测试
● 3504-40记录工具,实现高速/低成本的测试
● 查出全机测量中的接触错误,提高成品率

测量参数 Cs,Cp(电容),D(损耗系数tanδ)
测量范围 C:0.9400pF~20.0000mF
D:0.00001~1.99000
基本精度 (代表值)C: ±0.09% rdg. ±10 dgt., D: ±0.0016
※测定精度= 基本精度× B× C× D× E, B~E为各系数
测量频率 120Hz, 1kHz
测量信号电平 恒压模式: 100mV (3504-60), 500 mV, 1 V
测量范围:
CV 100mV:~ 170μF 量程 (测量频率 1kHz), ~ 1.45mF 量程 (测量频率 120Hz)
CV 500mV: ~ 170μF 量程 (测量频率 1kHz), ~ 1.45mF 量程 (测量频率 120Hz)
CV 1V: ~ 70μF 量程 (测量频率 1kHz), ~ 700μF 量程 (测量频率 120Hz)
输出电阻 5Ω(CV测量范围以外的开路端子电压模式时)
显示 发光二级管 (6位表示,满量程计算器根据量程而定)
测量时间 典型值: 2.0 ms ( 1 kHz, FAST)
※测量时间根据测量频率、测量速度的不同而不同
功能 BIN分类测量 (3504-40除外), 触发同步输出, 测量条件记忆, 测量值的比较功能, 平均值功能, Low-C筛选功能, 振动功能, 控制用输出输入 (EXT. I/O), RS-232C接口(标配), GP-IB接口(3504-40除外)
电源 AC 100/120/220/240V ±10%(可选择), 50/60Hz, 110VA
体积及重量 260W × 100H × 220Dmm, 3.8kg
附件 电源线×1,预备电源保险丝×1,使用说明书×1

 

服务体系

Service System

为用户提供详尽的仪器用途、重要参数的说明,还为客户提供不同品牌产品间的性能比较,给用户最中肯的购买建议。

  1. 服务理念

    服务理念

    安装验收合格后整机保修壹年。在质保期内,我们负责为用户的设备提供免费维护、保养和免费更换损坏的零部件;

  2. 售中服务

    售中服务

    为用户提供详尽的仪器用途、重要参数的说明,还为客户提供不同品牌产品间的性能比较,给用户中肯的购买建议。

  3. 售后服务

    售后服务

    安装验收合格后整机保修壹年。在质保期内,我们负责为用户的设备提供免费维护、保养和免费更换损坏的零部件;