日置-HIOKI C测试仪 3504-60

产品特性：封装机、分选机、电容器的合格与否的判断和等级分类等，C、D 2项目测试能以恒定电压测量大容量的多层陶瓷电容静电容量:可分成14类，能简单地根据测量值进行分类控制检测功能测试源频率: 120Hz, 1kHz 高速测量: 2ms RS-232C, GP-IB

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产品特点技术规格行业标准

封装机、分选机、电容器的合格与否的判断和等级分类等，C、D 2项目测试能以恒定电压测量大容量的多层陶瓷电容静电容量:可分成14类，能简单地根据测量值进行分类控制检测功能测试源频率: 120Hz, 1kHz 高速测量: 2ms RS-232C, GP-IB

为用户提供详尽的仪器用途、重要参数的说明，还为客户提供不同品牌产品间的性能比较，给用户最中肯的购买建议。

测量参数	Cs,Cp（电容）,D（损耗系数tanδ）
测量范围	C:0.9400pF～20.0000mF D:0.00001～1.99000
基本精度	（代表值）C: ±0.09% rdg. ±10 dgt., D: ±0.0016 ※测定精度= 基本精度× B× C× D× E, B～E为各系数
测量频率	120Hz, 1kHz
测量信号电平	恒压模式: 100mV (3504-60)， 500 mV, 1 V 测量范围: CV 100mV:～ 170μF 量程 (测量频率 1kHz), ～ 1.45mF 量程 (测量频率 120Hz) CV 500mV: ～ 170μF 量程 (测量频率 1kHz), ～ 1.45mF 量程 (测量频率 120Hz) CV 1V: ～ 70μF 量程 (测量频率 1kHz), ～ 700μF 量程 (测量频率 120Hz)
输出电阻	5Ω（CV测量范围以外的开路端子电压模式时）
显示	发光二级管（6位表示，满量程计算器根据量程而定）
测量时间	典型值: 2.0 ms （ 1 kHz, FAST） ※测量时间根据测量频率、测量速度的不同而不同
功能	BIN分类测量 (3504-40除外), 触发同步输出, 测量条件记忆, 测量值的比较功能, 平均值功能, Low-C筛选功能, 振动功能, 控制用输出输入 (EXT. I/O), RS-232C接口（标配), GP-IB接口(3504-40除外)
电源	AC 100/120/220/240V ±10%（可选择）, 50/60Hz, 110VA
体积及重量	260W × 100H × 220Dmm, 3.8kg
附件	电源线×1，预备电源保险丝×1，使用说明书×1