微分干涉衬度显微技术（简称DIC）是一种观察具有微小高度差的形貌的光学显微技术，这项技术将显微镜的垂直分辨率提高到纳米级。它和相衬技术相似，都是将试样表面微小高度差造成的光程差转变为人眼及感光材料所能感受到n强度差，从而提高了显微组织细节间的衬度，便于识别，但是其原理有所不同。由于此项技术使被观察试样组织有很强的立体感和鲜艳的色彩，因此在金相学、晶体学、集成电路、陶瓷和高分子材料、生物和医学等许多领域发挥了重大作用。