为什么要使用显微镜？
在现代电子产品的开发与制造中，半导体元器件（如IC芯片、显示器等）的质量与可靠性是决定产品成败的核心。其中，显微镜作为一种不可或缺的精密观察工具，贯穿于从研发、生产到故障分析的各个环节，为确保电子元器件的高品质与高性能提供了至关重要的技术保障。
在微观尺度上，即便是微米甚至纳米级别的缺陷——例如电路图形的划痕、颗粒污染、光刻残留物、金属连线的短路或开路，以及晶体结构的不完整性——都可能导致元器件功能失效、性能下降或寿命缩短。
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适用于各种行业且任何技能等级的用户
生产经理、生产成员、组长QC经理、QC工程师、QC技术员研发经理、研发工程师、失效分析工程师
应用需求
检测：目视检查样品以做出通过/失败判定，包括与参考图像、标准样品以及可选文件的对比。
要求测量的检测：另外还包括感兴趣的特征/已识别缺陷的测量。
荧光检测：此外，还可使用荧光技术使样品上的有机污染物（如晶圆上的光刻胶残留物）显影。
相关设备
VISORIA M M手动检查
小尺寸样品（最大4英寸）
DM4 M
使用编码显微镜检查小尺寸样品（最大4/6英寸）
DM6M
使用完全可重复的DIC检查4/（手动载物台）6英寸的样品
DM8000M/DM12000M
手动或自动检查大尺寸样品和最大可12英寸的晶圆
欢迎咨询400-886-0902 为您提提供对半导体元器件进行检查设备和方案。
