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半导体材料检测

  1. 2021年将执行的《电子工业水污染排放标准》是否与您相关?

    2021年将执行的《电子工业水污染排放标准》是否与您相关?

    标准规定电子工业新建企业自 2021 年 7 月 1 日起,现有企业自 2024 年 1 月 1 日起,其水污染物排放控制按GB 39731-2020的规定执行,不再执行《污水综合排放标准》(GB 8978-1996)和《电镀污染物排放标准》(GB21900-2008)的相关规定。

  2. 显微镜半导体分析

    徕卡显微镜在半导体行业的个性化应用方案

    徕卡公司针对微电子和半导体行业的检验、流程控制或缺陷和故障分析的应用特点,可提供不同需求的个化性化解决方案。

  3. 扫描电子显微镜在半导体行业的应用

    扫描电子显微镜在半导体行业的应用

    纳米科技的发展引领纳米尺度制造业的迅速发展,而纳米加工就是纳米制造业的核心部分,纳米加工的代表性方法就是聚焦离子束。   近年来发展起来的聚焦离子束(F...

  4. 赛默飞增强型锁相热发射显微镜在半导体领域的应用

    赛默飞增强型锁相热发射显微镜在半导体领域的应用

    ♦ ELITE (增强型锁相热发射显微镜)   众所周知,锁相热发射显微镜如今已成为高等电性故障分析流程中不可或缺的技术手段。有缺陷的或表现不佳的半导体器件...

  5. 塌丝触及芯片边缘引起失效

    塌丝触及芯片边缘引起失效

    本文通过对典型案例的介绍,分析了键合工艺不当,以及器件封装因素对器件键合失效造成的影响。通过对键合工艺参数以及封装环境因素影响的分析,以及对各种失效模式总结,阐述了键合工艺不当及封装不良,造成键合本质失效的机理;并提出了控制有缺陷器件装机使用的措施.

  6. 探针测量

    强大的探针测量

    测量要求 扫描面板探针表面三维形貌,提取profile测量探针顶端的磨损情况