在刚结束的“第十届中国聚焦离子束技术及学术研讨”上，新一代的Therno Scientific™ Helios™ 5 DualBeam™  精彩亮相。赛默飞FIB产品经理Mikhail Dutka 为大家讲述了Fully Automated In-Situ Sample Preparation with New Generation Helios 5 DualBeam(全新 Helios 5 双束全自动原位样品制备)。

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使用聚焦离子束制备薄 S/TEM 样品仍被视为一项具有挑战性的任务，需要高水平的专业知识、长时间的培训时间和操作员的独特技能。新一代 Helios 5 DualBeam 与 AutoTEM 5 相结合，可实现从粗切到原位提取、减薄和终低 kV 抛光的全自动过程，实现高质量的薄片样品制备过程。它设计可靠适用于各种困难的材料。在完全自动化模式下，薄片样品可以在45分钟无人值守的情况下快速制备。

Helios 5 DualBeam 重新定义了高分辨率成像的标准：高的材料对比度，快、简单、准确的高质量样品制备，用于 S/TEM 成像和原子探针断层扫描（APT）以及高质量的亚表面和 3D 表征。在 Helios DualBeam 系列久经考验的性能基础上，新一代的 Helios 5 DualBeam 进行了改进优化，所有这些都旨在确保系统处于手动或自动工作流程的佳运行状态。这些改进包括：

一、更易于使用

Helios 5 是所有体验级别用户容易使用的 DualBeam。操作员培训可以从几个月缩短到几天，系统设计可帮助所有操作员在各种应用程序上实现一致、可重复的结果。

二、提高了生产率

Helios 5 和 AutoTEM 5 软件的自动化功能，增强的稳健性和稳定性允许无人值守甚至夜间操作，显着提高样品制备通量。

三、改善时间和结果

Helios 5 DualBeam 现在包括 FLASH，这是一种调整图像的新概念。对于传统的显微镜，每次操作员需要获取图像时，通过迭代对中仔细调整显微镜。使用 Helios 5 DualBeam，屏幕上的简单手势将激活 FLASH，将自动调整这些参数。自动调整可以显着提高通量、数据质量并简化高质量图像的采集。

文章转自：微信公众号赛默飞材料与结构分析中国